芯片分级循环与科技再生的核心品质支撑环节，为全链路绿色循环提供精准数据依据
作为芯片分级循环与科技再生的核心品质支撑环节，为全链路绿色循环提供精准数据依据。通过高精度测试与可靠性筛选，精准区分芯片四大梯次等级，从源头保障再生芯片品质稳定。
专业设备鉴定芯片真伪，识别翻新、仿冒、打磨片，保障物料品质。
全面检测芯片各项功能模块，确保功能完整、无隐性故障。
ATE全电性能测试，精准测量电压、电流、时序等关键参数。
对可修复芯片进行参数校准与故障修复，恢复至商用标准。
高低温老化筛选，验证芯片在极端环境下的稳定性与可靠性。
精准定位芯片故障类型与程度，为分级处置提供数据支撑。
大批量芯片快速质检，按品质等级精准分类，提升处置效率。
提供详细测试数据报告，可追溯、可审计，支撑品质决策。
精准测试驱动价值最大化，助力低碳循环落地
通过高精度测试与可靠性筛选，精准区分芯片四大梯次等级，筛选可再生、可复用物料，实现价值逐层释放。
精准剔除不良品，从源头保障再生芯片品质稳定，让每一颗流出的芯片都达到商用认证标准。
最大化提升物料利用率、减少电子固废，让更多芯片获得二次生命，助力低碳循环经济落地。
十余年IC测试技术积淀，全套ATE测试设备，自研测试治具